用途及特点： 
● 该冲击试验箱为待测品静置，制冷、热交替冲击方式，广泛使用于电子零部件测试、半导体、电子线路板、金属化学材料等试验设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，下风门关闭，形成高温内循环。低温冲击时，下风门打开，上风门关闭，形成低温内循环。如果有需要，还可以与环境温度连通（通过后风门打开来实现）形成三箱法试验。

特点：
● 试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。

规格：
● 冷、热冲击范围： -20℃~+150℃ -40℃~+150℃ 
-65℃`+150℃
● 温度波动：≤±0.5℃
● 温度均匀度：≤±2℃
● 恢复时间： 5分钟

技术参数